GB/T 5167-2018燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金 電阻率的測定
2023-08-23
GB/T 5167-2018燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金 電阻率的測定 GB/T 5167-2018燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金電阻率的測定是燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金的電阻率測試方法的標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金的電阻率測定方法和相關(guān)要求。 根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)，燒結(jié)金屬材料和硬質(zhì)合金的電阻率測定采用四電極法。試樣被制成圓柱形，直徑較大的一端接觸四個電極，并置于絕緣平板上。通過測量電極之間的電壓和電流，計算出試樣的電阻率。
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GB/T 16427-2018粉塵層電阻率測定方法
2023-08-23
GB/T 16427-2018粉塵層電阻率測定方法 GB/T 16427-2018粉塵層電阻率測定方法的具體內(nèi)容如以下所述： 范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測定粉塵層電阻率的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定粉塵層電阻率的實驗室試驗。 規(guī)范性引用文件：GB/T 16427-2018引用了以下文件：GB/T 16427-1996。 粉塵的定義：本標(biāo)準(zhǔn)修改了粉塵的定義。粉塵是物質(zhì)在氣動或機械運動過程中，懸浮于空氣中的微小顆粒物。 測定電路：本標(biāo)準(zhǔn)修改了測定電路的內(nèi)容。測定電路由沉積在絕緣平板上的一層粉塵構(gòu)成，粉塵由氣體或液體霧化形成。
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GB/T 351-2019金屬材料 電阻率測量方法
2023-08-23
GB/T 351-2019金屬材料 電阻率測量方法 適用于測量金屬材料的電阻率。該標(biāo)準(zhǔn)提供了兩種測量方法：標(biāo)準(zhǔn)條件下測量和在溫度變化條件下測量的方法。具體的方法包括以下步驟：
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GB/T 3781.9-2019乙炔炭黑 第9部分:電阻率的測定
2023-08-23
GB/T 3781.9-2019乙炔炭黑 第9部分:電阻率的測定 乙炔炭黑的電阻率是用來表示這種材料的電阻特性的物理量。某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下（20℃時）導(dǎo)線的電阻，叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆·米（Ω·m）或歐姆·毫米（Ω·mm）。
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GB/T 37977.23-2019 靜電學(xué) 第2-3部分：防靜電固體平面材料電阻和電阻率的測試方法
2023-08-23
GB/T 37977.23-2019 靜電學(xué) 第2-3部分：防靜電固體平面材料電阻和電阻率的測試方法 包含了防靜電固體平面材料電阻和電阻率的測試方法。該測試方法用于評估材料的防靜電性能，以確保這些材料在特定的應(yīng)用環(huán)境中能夠有效地防*止靜電積累和放電。
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GB/T 40007-2021納米技術(shù) 納米材料電阻率的接觸式測量方法 通則
2023-08-23
GB/T 40007-2021納米技術(shù) 納米材料電阻率的接觸式測量方法 通則 規(guī)定了納米材料電阻率的接觸式測量方法的通則。該標(biāo)準(zhǔn)適用于納米材料，包括納米顆粒、納米纖維、納米薄膜等。 該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米材料電阻率接觸式測量的基本原理、測試條件、測試步驟、數(shù)據(jù)處理和測量不確定度評估等內(nèi)容。 粉末電阻率測試儀方法是一種測量粉末電阻率的技術(shù)，主要采用四探針測量法。
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GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法
2023-08-23
GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法 GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法規(guī)定了采用四探針法測試試樣厚度大于4倍探針間距的碳納米管粉體電阻率的測試方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于碳納米管粉體，其他碳材料的粉體電阻率測試可參考執(zhí)行。 四探針法是測量碳納米管粉體電阻率的一種方法。它使用四個探針，通過接觸碳納米管粉體試樣，測量其電阻率。
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GB/T 31838.7-2021電阻特性(DC方法) 高溫下測量體積電阻和體積電阻率
2023-08-23
GB/T 31838.7-2021電阻特性(DC方法) 高溫下測量體積電阻和體積電阻率 GB/T 31838.7-2021固體絕緣材料 介電和電阻特性 第7部分：電阻特性(DC方法) 高溫下測量體積電阻和體積電阻率 規(guī)定了使用直流方法在高溫下測量固體絕緣材料體積電阻和體積電阻率的測試方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估高溫下固體絕緣材料的電性能。
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GB/T 31838.5固體絕緣材料 介電和電阻特性 第5部分：電阻特性(DC方法) 浸漬和涂層材料的體積電阻和體積電阻率
2023-08-23
GB/T 31838.5-2021固體絕緣材料 介電和電阻特性 第5部分：電阻特性(DC方法) 浸漬和涂層材料的體積電阻和體積電阻率 GB/T 31838.5-2021規(guī)定了固體絕緣材料介電和電阻特性的測試方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于評估浸漬和涂層材料的電阻特性，包括體積電阻和體積電阻率。
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GB/T 1551-2021硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法
2023-08-23
GB/T 1551-2021硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法 GB/T 1551-2021《硅單晶電阻率的測定 直排四探針法和直流兩探針法》是一個標(biāo)準(zhǔn)，它規(guī)定了使用直排四探針法和直流兩探針法測定硅單晶電阻率的測試方法。 直排四探針法適用于測試電阻率為0.01Ω·cm到1000Ω·cm的硅單晶，而直流兩探針法適用于測試電阻率為10-4Ω·cm到100Ω·cm的硅單晶。
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