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雙電組合四探針測試儀 方阻儀

發(fā)布時間: 2024-04-29 16:29:05 點擊: 4808
雙電組合四探針測試儀 方阻儀


雙電組合四探針測試儀

 

一. 雙電組合四探針法原理:

1.通過采用四探針雙位組合測量技術,將范德堡測量方法應用到直線四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進行兩次電測量,其最后計算結果能自動消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的,對測量結果的不利影響。

2.在測試過程中,在滿足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。

3.自動修正,降低了其對測試結果的影響,從而提高了測量結果的準確度。

二. 雙電組合四探針法優(yōu)點:

1.常規(guī)四探針測量方法解決不了,幾何邊界條件和探針間距的自動修正.

2.應用于各類形狀的簿膜及片狀半導體材料。